تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۳ پاسخ تکراری در مدت زمان ۰,۴۱ ثانیه یافت شد.

1. Introduction to VLSI testing

پدیدآورنده : Robert J. Feugate, Jr., Steven M. McIntyre

موضوع : Integrated circuits--Very large scale integration--Testing

۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.

این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است